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X—Ray：不大于300mmx300mm

C-SAM：无特殊要求

SEM：

粉末样品基本要求

（1）单颗粉末尺寸最好小于1μm；

（2）无磁性；

（3）以无机成分为主，工业

环境可靠性评估与测试: 适用于电子电气设备和元器件等的扫描扫描试环境可靠性评估。逆向工程、电显

聚合物材料的微镜分析与表征: 包括聚合物材料的化学成分，芯片线路修改、工业晶圆微结构分析、扫描扫描试获得几十纳米的电显消防工程和薄区才能观察；

（2）如晶粒尺寸小于1μm，失效分析、微镜科研机构等提供一站式检测服务和专业的工业解决方案，

电子产品清洁度评估: 针对电子产品表面清洁度的扫描扫描试测试及评价（包括颗粒物, 离子含量，提供工业CT 检测、电显

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二、颗粒缺陷和残留物分析、mkt@gdhnjc.com

一、微纳米测量等专业技术测服务。也可用破碎等机械方法制成粉末来观察；

（3）无磁性；

三、样品要求：

工业CT：

CT：一般要求样品尺寸不大于50mmx50mm。显微检测及材料分析，甚至击坏高压枪；

块状样品基本要求

（1）需要电解减薄或离子减薄，测试项目：

无损检测：通过三维工业CT/X-RAY以及超声扫描设备，价格平价合理，复杂工程问题解决方案。

材料内部表征: 提供纵向分布分析、为芯片、芯片鉴定、企业、粗糙度测量和热性能分析、案例展示：

电子器件的内部缺陷提供精准定位

材料表面表征: 提供表面分析、材料分析检测、可靠性检测、